日本原產 京都玉崎 INTECS英特斯 UIH-1C型
·當高強度光照射物體(*1)時,會出現廷德爾現象,表面的劃痕和碎片,以及異物和氣泡,都可以很容易地通過目視檢查。*1 智能手機、半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等!
如需檢測拋光晶圓混濁程度的設備(UIH-1H型),請另行聯系。
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日本原產 京都玉崎 INTECS英特斯 UIH-1C型
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·當高強度光照射物體(*1)時,會出現廷德爾現象,表面的劃痕和碎片,以及異物和氣泡,都可以很容易地通過目視檢查。
*1 智能手機、半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等!
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