日本原產 京都玉崎 INTECS英特斯 UIH-1C型

 日本原產 京都玉崎 INTECS英特斯 UIH-1C型

 日本原產 京都玉崎 INTECS英特斯 UIH-1C型

·當高強度光照射物體（*1）時，會出現廷德爾現象，表面的劃痕和碎片，以及異物和氣泡，都可以很容易地通過目視檢查。
*1 智能手機、半導體晶圓、掩膜玻璃、硬盤、液晶面板、鏡頭等！

如需檢測拋光晶圓混濁程度的設備（UIH-1H型），請另行聯系。