AT513方阻測試儀

AT513 四探針方阻測試儀器，采用高性能 ARM 微處理器控制的全自動實時檢測的微型臺式儀器。儀器采用全彩的 LCD 顯示屏，全數字鍵盤，搭配安柏儀器操作系統，使顯示更清晰，操作更方便。
AT513可根據長度（0~10000mm），寬度（0~10000mm），間距（0~10000mm）算出F值功能。
AT513可在內部存儲 10 組設置，外部 USB 磁盤也可存儲 10 組設置，方便不同規格調用。
AT513四探針方阻測試儀標配 LAN接口、RS-232接口和RS-485 接口，使用 SCPI（Standard Command for Programmable Instrument 可程控儀器標準命令集）和 Modbus RTU 協議與計算機、PLC 或 WINCE 設備進行通訊，高效完成遠程控制和數據采集功能。
特征
AT513四探針法通過將電流和電壓測量分開，消除了接觸電阻的影響，從而提高了測量的精度。還能減少背景信號的干擾，特別是測量低電阻率材料時，背景信號的影響會被顯著降低。
四探針法僅需在樣品表面輕輕接觸，不會對樣品造成物理損傷，適用于各種敏感材料的測量。
四探針法適用于各種材料，包括金屬，半導體，絕緣體和復合材料。特別是對于薄膜材料，四探針法能準確的測量其電阻率，不受樣品厚度影響。
儀器具有 2%的電阻率準確度，測量范圍可到 200kΩ。

測量參數	方阻測試
通道數	/
基本準確度	2%
測量范圍	200mΩ~200kΩ
量程	7量程 手動
測量速度	/
*讀數	900kΩm
觸發方式	內部、外部觸發
接口	Handler 接口 RS232接口 LAN接口 RS485接口 Type-C 接口
其他	真彩5寸 TFT-LCD顯示 帶電容觸摸屏，鍵盤鎖
附件	四線制探針
可選附件	/
尺寸與重量	264mm (寬)x105mm(高)x350mm (深) 重量：3.5kg
電源要求	電壓：100VAC~240VAC 頻率：50Hz/60Hz

應用
測量?薄層（或薄膜）材料的方塊電阻?
表征薄膜材料導電性能的方塊電阻（Sheet Resistance, Rs）
適用于片狀或塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層、
太陽能等材料的測試
測量柔性材料導電薄膜、
金屬涂層或陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層材料的電阻率/方阻