金屬鍍層測厚儀EDX2000A配大面積SDD探測器和微小0.1mm準直孔，上照式結構設計滿足各種不規則小面積鍍層厚度分析，對博納米級的電子件的鍍金，鍍銀厚度也可以分析。金屬鍍層測厚儀EDX2000A由江蘇天瑞儀器股份有限公司提供產品資料和報價。