x熒光光譜儀測試速度快,1秒鐘出結果
1、采用行業*的極速探測器技術——（SDD）分辨率低至125eV
優勢：探測面積大（面積達25m㎡）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
2、采用行業*的數字多道技術
優勢：有效提高輸出效率，實現高計數率，保證采集有效計數率過600KCPS
3、采用大功率X光管及*的準直濾光系統
優勢：使貴金屬的激發效率更高
4、光閘系統

	優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度



	 


測量元素范圍：硫(S)～鈾(U)
檢出限：分析檢出限可達2ppm，*薄可測試0.005μm
元素含量分析范圍：2ppm～99.99%
探測器：SDD探測器，分辨率低可達125eV
管流：≤1000uA
管壓：5～50kV
測量時間：1s或以上(可調)
濾光片：4種濾光片自由切換
準直器：8種準直器自動切換
樣品觀察：高清工業攝像頭
環境濕度：≤70%
環境溫度：15℃～30℃
制冷方式：電制冷，無需任何耗材
輸入電壓：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源